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NIST溯源尺度標準，用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導體技術藍圖（ITRS）所義的關鍵質控點

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