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  • SURF-CAL尺度標準微粒Duke PD-204 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點

    更新日期:2017-06-14
    型號:SURF-CAL尺度標準微粒
    廠商性質:經銷商
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  • SURF-CALDuke PD-200 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點

    更新日期:2016-05-10
    型號:SURF-CAL
    廠商性質:經銷商
    瀏覽量:3472
  • SURF-CALDuke PD-155 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點。

    更新日期:2017-06-11
    型號:SURF-CAL
    廠商性質:經銷商
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  • SURF-CALDuke PD-125 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點

    更新日期:2016-05-08
    型號:SURF-CAL
    廠商性質:經銷商
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  • SURF-CALDuke PD-100 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點

    更新日期:2017-06-11
    型號:SURF-CAL
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  • SURF-CALDuke PD-092 SURF-CAL 尺度標準微粒

    NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規格。SURF-CAL系列產品完符合SEMI行業協會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質控點

    更新日期:2017-06-11
    型號:SURF-CAL
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